Nuestras soluciones de biometría cuentan con tecnología de Idemia, #1 en el ranking del NIST.
Equifax utiliza el algoritmo de reconocimiento facial 1:N de Idemia
en sus soluciones de biometría, gracias al acuerdo celebrado con Iafis
Argentina, representante exclusivo de Idemia en la región. Lidera
técnicamente esta asociación 4i Digital, empresa líder en proyectos de
biometría digital.
Este algoritmo ha conseguido el primer puesto
entre 75 sistemas probados y 281 participantes en la última FRVT (Face
Recognition Vendor Test) del NIST (National Institute of Standards and Technology).
La FRVT mide la eficacia de los sistemas de
reconocimiento facial para aplicaciones civiles, policiales y de
seguridad, y abarca criterios de precisión, velocidad,
almacenamiento y memoria. Los resultados de estas pruebas son
reconocidos como el estándar de referencia del sector de la
seguridad a nivel mundial.
Los resultados de las pruebas del NIST del 26
de marzo de 2021 establecen, sin margen de duda, que IDEMIA
tiene el mejor sistema de identificación del mercado. Si tomamos
como ejemplo los sistemas de control de fronteras, IDEMIA
alcanzó la mejor puntuación de precisión con un 99,65 % de
coincidencias correctas entre 1,6 millones de imágenes faciales.
Uno de los aspectos importantes del
reconocimiento facial automatizado mediante IA es enseñar a sus
diversos algoritmos no solo a ser precisos, sino igualmente
rápidos y optimizar su imparcialidad. Se trata de encontrar el
equilibrio adecuado cuando se trata de grandes volúmenes de
imágenes faciales. Las soluciones de reconocimiento facial de
IDEMIA funcionan con o sin mascarilla y con el mejor equilibrio
entre velocidad y precisión, paridad demográfica y son capaces de
procesar imágenes de rostros de perfil.
La FRVT evaluó los algoritmos fundamentales
de IDEMIA en los que se basan todos sus sistemas de
reconocimiento facial, que responden a las necesidades de
control de acceso, seguridad pública y control de fronteras.
Accedé al ranking completo del NIST en este
link: https://pages.nist.gov/frvt/html/frvt1N.html